137-1702-2188
SANKO山高 薄膜厚度計(jì)探頭測量支架 product
簡要描述： SANKO山高 薄膜厚度計(jì)探頭測量支架
產(chǎn)品型號(hào)：發(fā)布時(shí)間：2026-01-31產(chǎn)品展示
product詳細(xì)介紹
SANKO山高 Quintsonic T 超聲波薄膜厚度計(jì)
特征
可以對(duì)同一點(diǎn)施加恒定的力，從而實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量。
兼容探頭：SWT系列、CTR、Pro、Mini Test等。（詳情請(qǐng)聯(lián)系我們）
用法
深圳市京都玉崎電子有限公司
yyf@tamasaki.com
深圳市龍華新區(qū)梅隴路906號(hào)電商集團(tuán)3樓整層
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