SANKO山高   電阻薄膜厚度計 RST-231

在短時間內（0.7 秒）對絕緣體上的金屬薄膜（銅箔、印刷電路板上的鍍層等）進行高精度測量

特征

采用四點探針（開爾文型）。不受背面或內層影響，可測量雙面和多層板。

使用屏幕大、易于閱讀的電腦。

校準和測量簡便?？蛇x擇兩個量程，可測量厚度為 2 至 120 μm 的金屬薄膜。

您最多可以注冊 40 個頻道，因此您可以按用戶名、產(chǎn)品編號等對頻道進行分類，從而注冊和管理頻道。

可以保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，并可為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項，以便稍后進行統(tǒng)計處理。

通過設定薄膜厚度的上限和下限，可以對異常值進行通知。

規(guī)格