SANKO山高薄膜厚度計 鉛筆劃痕測試儀 product
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簡要描述: SANKO山高 UDM-1100超聲波測厚儀
產(chǎn)品型號:
發(fā)布時間:2026-01-31產(chǎn)品展示
product詳細(xì)介紹
SANKO山高 UDM-1100超聲波測厚儀
特征
本測試儀通過使用已知硬度的鉛筆芯在涂層上劃痕,并測定劃痕程度,來評估涂層的硬度和附著強度(阻力、塑性變形、內(nèi)聚破壞等)。它
具有多種標(biāo)準(zhǔn)化測試條件的功能,使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363標(biāo)準(zhǔn)。
深圳市京都玉崎電子有限公司
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